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產品：JGR MS12 插回損測試儀

MS12插回損測（cè）試儀是工業上應用最廣泛的插入損耗和免纏繞回（huí）波損耗測量（liàng）方（fāng）案。為光纜組件（jiàn）和光學元件提供準確、可靠和可追蹤的結果。            

MS12平台與光纖市場的領導者密切合作，為滿足（zú）關鍵光纖測試需求而（ér）量身定製。內部監控功能（néng）可保持（chí）激光穩定性，以便（biàn）進行可靠的插（chā）入損耗測試。內部回波損耗基準有

助於（yú）高精度的多模和單模回波損耗（hào）測量精度。多模MS12回波損耗表符合IEC-61280-4-1環型通量標準。

SM 1310, 1490, 1550 and 1625 nm

MM 850, 1300 nm

RL: SM 80 dB

RL: MM 50 dB

廣域集成腔

光纜組件（jiàn）測試

帶狀光纖測試

多連接器類型的同時測試

單芯和多芯測試

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